影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量是單軸、二維平面的測(cè)量、三維空間坐標(biāo)的測(cè)量。測(cè)量時(shí)先對(duì)焦取點(diǎn)最后計(jì)算處理。對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠光學(xué)系統(tǒng)，讀數(shù)來(lái)自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng)，還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源，因?yàn)槿绻粶y(cè)件不能被有效正確的照明的影像方法的測(cè)量的儀器，則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。除前述因素外，制約測(cè)量精度不可忽視的因素也包括環(huán)境條件。于上述分析,可以歸納出以下幾個(gè)方面的誤差來(lái)源:

　　1）光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;

　　2）直線度、角擺在工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)帶來(lái)的誤差;

　　3）工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶來(lái)的誤差;

　　4）工作臺(tái)面與顯微鏡光軸不垂直帶來(lái)的誤差;

　　5）偏離校準(zhǔn)要求的參考溫度的測(cè)量室溫度帶來(lái)的誤差;

　　6）光源照明條件的變化帶來(lái)的對(duì)準(zhǔn)和對(duì)焦誤差。

　　在這幾種因素中，前四項(xiàng)誤差在儀器制造過(guò)程中已經(jīng)形成并固定下來(lái)，一般無(wú)法改變，是硬件誤差。必須通過(guò)控制測(cè)量室的溫度和等溫過(guò)程來(lái)減小溫度影響帶來(lái)的誤差。在實(shí)際測(cè)量中最后一項(xiàng)則常被忽視，被測(cè)工件的影像質(zhì)量和照明效果直接受到光源照明條件改變的影響，主要是因?yàn)橛跋駵y(cè)量?jī)x的圖像是通過(guò)具有自動(dòng)調(diào)節(jié)增益的功能CCD接收，但當(dāng)亮度過(guò)大時(shí)則會(huì)失去調(diào)節(jié)功能，導(dǎo)致被測(cè)工件影像縮小，當(dāng)亮度過(guò)低時(shí)，工件影像反而變大。所以只要注意整個(gè)測(cè)量過(guò)程中照明條件保持不變，其影響可以忽略，因?yàn)槊總€(gè)重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)都同時(shí)在變大或變小，影像變形的影響被間距的測(cè)量計(jì)算直接消除了；除了這種特殊情形外,如測(cè)量工件的長(zhǎng)度、圓的直徑和寬度，都將帶來(lái)明顯的誤差。